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連續光學傳遞函數測量儀--為了測量傳遞函數,因連續可變的條紋間隙所產生的干涉圖可用作可撓光的圖靶。靶的產生,正弦,或方形波,或用在光學部件的躍變對于評定部件的調制傳遞函數和相位傳遞函數都是必須；光學系統的成像過程研究和像質評價是光學信息處理的重要內容。而基于頻譜分析方法和線性系統的光學傳遞函數，通過表征光學系統對不同空間頻率的目標的傳遞性能，能客觀有效地分析整套光學系統的信息傳遞性能
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